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模擬高溫試驗室
模擬自然和誘發(fā)環(huán)境 對高溫的實驗室模擬，首先要從它對產(chǎn)品造成的影響來考慮，這種影響包含需承受多高的溫度、需承受多長的時間。
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1、模擬自然和誘發(fā)環(huán)境對高溫的實驗室模擬，首先要從它對產(chǎn)品造成的影響來考慮，這種影響包含需承受多高的溫度、需承受多長的時間。就承受的高溫而言，對存儲和運輸是模擬其全球最高大氣溫度記錄極值所導致的誘發(fā)溫度；對工作狀態(tài)下的高溫，是模擬產(chǎn)品實際經(jīng)受的大氣溫度。由高溫大氣導致的誘發(fā)溫度，當前的實驗室模擬方法有兩種：一種是用恒定的高溫來模擬，另一種是用日循環(huán)高溫來模擬。
圖1 模擬高溫試驗箱實拍圖
用恒定高溫來模擬，其溫度是用全球最高大氣溫度記錄極值下產(chǎn)生的最高誘發(fā)溫度，這就是在高溫試驗標準中常見的+71℃和+85℃的高溫試驗溫度，用這種誘發(fā)溫度來進行高溫試驗時，通常不提控制相對濕度，除非試驗必須時，即特殊需要時。用日循環(huán)高溫來模擬，就是模擬一天24h的溫度變化，是將全世!界最熱地區(qū)最熱月份每天隨著最高大氣溫度而變化的誘發(fā)溫度，按一個小時的間隔依次給出。用日循環(huán)高溫來模擬，既考慮了誘發(fā)溫度在連續(xù)高溫天氣下的累計最高響應溫度，又考慮了在這種連續(xù)高溫下24h中最嚴酷的最低相對濕度的變化。表3-4所示為美國軍標MIL-810F和我國軍標GJB 150A中的高溫日循環(huán)數(shù)據(jù)。表3-4高溫日循環(huán)
1天中的時間（h） 氣候類型：基本熱 氣候類型：熱 環(huán)境空氣溫度 誘發(fā)溫度 環(huán)境空氣溫度 誘發(fā)溫度 溫度（℃） 濕度（%）RH 溫度（℃） 濕度（%）RH 溫度（℃） 濕度（%）RH 溫度（℃） 濕度（%）RH 01 33 36 33 36 35 6 35 6 02 32 38 32 38 34 7 34 7 03 32 41 32 41 34 7 34 7 04 31 44 31 44 33 8 33 7 05 30 44 30 44 33 8 33 7 06 30 44 31 43 32 8 33 7 07 31 41 34 32 33 8 36 5 08 34 34 38 30 35 6 40 4 09 37 29 42 23 38 6 44 4 10 39 24 45 17 41 5 51 3 11 41 21 51 14 43 4 56 2 12 42 18 57 8 44 4 63 2 13 43 16 61 6 47 3 69 1 14 43 15 63 6 48 3 70 1 15 43 14 63 5 48 3 71 1 16 43 14 62 6 49 3 70 1 17 43 14 60 6 48 3 67 1 18 42 15 57 6 48 3 63 2 19 40 71 50 10 46 3 55 2 20 38 20 44 14 42 4 48 3 21 36 22 38 19 41 5 41 5 22 35 25 35 25 39 6 39 6 23 34 28 34 28 38 6 37 6 24 34 33 33 33 37 6 35 6 2、采用貨架產(chǎn)品的概念(1)在IEC 60068和國標GB/T 2423這一類基礎標準中，是不區(qū)分元器件和整機而普遍適用的。由于預先不知道具體的使用場合，故采用貨架產(chǎn)品的概念，即給出一系列的存儲和工作的試驗條件，即嚴酷程度等級，以供使用方按其實際的使用環(huán)境(平臺環(huán)境)進行選擇：+30℃、+35℃、+40℃、+45℃、+50℃、+55℃、+60℃、+65℃、+370℃、+85℃、+100℃、+125℃、+155℃、+175℃、+200℃、+250℃、+315℃、+400℃、+500℃、+800℃、+1000℃。(2)在國軍標關于電子和電氣元件、微電子器件的標準中，同樣由于預先不知道使用場合，也是采用貨架產(chǎn)品的概念，以供使用方按其實際使用環(huán)境(平臺環(huán)境)的不同進行選擇，但這種選擇不是主要從產(chǎn)品對高溫環(huán)境的適應性角度來考慮的，而是作為提高產(chǎn)品質量和可靠性的一種工藝手段，即給出一系列不同高溫度等級來對產(chǎn)品進行各種性能考核。①電子和電氣元件標準中將高溫試驗用作壽命試驗，測定電子和電氣元件在高溫環(huán)境中的工作壽命，其溫度等級有：70℃、85℃、100℃、125℃、200℃、350℃、600℃。②在微電子器件標準中將高溫試驗用于獲得失效率參數(shù)等，具體如下：高溫：其一是測定其穩(wěn)態(tài)壽命，使其結果不具備早期失效和初期失效的特征；其二用于求間歇壽命(失效率)，所用的溫度在100～190℃之間分成15個等級。采用高、低溫循環(huán)試驗來測定微電子器件的失效率，溫度量級分為6級。A級：-54～+55℃；B級：-54～+71℃；C級：-54～+95℃；D級：-65～+71℃；E級：-54～+125℃；F級：0～+70℃。將高溫用作存儲試驗，確定高溫存儲對微電子器件的影響，但不能用于求存儲失效率。其等級有8級。A級：75℃；B級：125℃；C級：100～200℃(又分為9個等級)；D級：200℃；E級：250℃；F級：300℃；G級：350℃；H級：400℃。
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