GB/T170.2-2008標準范圍

GB/T 5170的本部分規(guī)定了溫度(含低溫、高溫和溫度變化)試驗設備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結果與檢驗結果、檢驗周期等內容。

本部分適用于對GB/T 2423.1《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫》、GB/T2423.2 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫》和GB/T 2423. 22 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化》所用試驗設備的首次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本部分也適用于類似試驗設備的檢驗。

規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過GB/T 5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內容)或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本部分GB/T 2423.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫(GB/T 2423. 1-2001, idtIEC 60068-2-1: 1990)

GB/T 2423.2電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫(GB/T 2423. 2-2001, idtIEC 60068-2-2: 1974)；

GB/T 2423.22電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化(GB/T 2423.22-2002, IEC 60068-2-14: 1984, IDT)；

GB/T 2424.5電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度試驗箱性能確認(GB/T 2424.5-2006, IEC 60068-3-5: 2001, IDT)；

GB/T 5170.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法總則；

GB/T 16839.1熱電偶第1部分:分度表(GB/T 16839. 1-1997, idt IEC 60584-1: 1995)IEC 60751工業(yè)鉑電阻敏感元件。

術語和定義

本部分采用GB/T 5170.1-2008規(guī)定的術語和定義。

檢驗項目

本部分的檢驗項目如下:

－溫度偏差；

－溫度波動度；

－溫度均勻度；

－風速；

－溫度變化速率；

－每5min溫度平均變化速率；

－溫度恢復時間；

－溫度指示誤差；

－溫度過沖量；

－溫度過沖恢復時間；

－噪聲。