高低溫環(huán)境試驗(yàn)箱有（高低溫箱、高低溫試驗(yàn)箱、高低溫濕熱試驗(yàn)箱、高低溫交變實(shí)驗(yàn)箱、高低溫濕熱交變?cè)囼?yàn)箱、恒溫恒濕箱、恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)）適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫交變濕熱環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)； 是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒、耐熱、耐濕、耐干性試驗(yàn)及品管工程的可靠性測試設(shè)備； 特別適用于光纖、LCD、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐潮濕循環(huán)試驗(yàn)。

　　為了確保環(huán)境試驗(yàn)性的精確度，我們往往需要對(duì)其的性能進(jìn)行校準(zhǔn)。目前在校準(zhǔn)的過程中，主要可以采用三種不同的方法。在實(shí)際進(jìn)行校準(zhǔn)的時(shí)候，我們需要根據(jù)實(shí)際情況選擇其中一種最為適合的方法對(duì)環(huán)境試驗(yàn)箱進(jìn)行校準(zhǔn)。

　　而想要保證選擇的正確性，我們需要先對(duì)這三種不同的校準(zhǔn)方法進(jìn)行適當(dāng)?shù)牧私?，尤其要?duì)各自的優(yōu)缺點(diǎn)進(jìn)行分析和研究。下面我們就針對(duì)環(huán)境試驗(yàn)箱常用的這三種不同的校準(zhǔn)方法的優(yōu)缺點(diǎn)進(jìn)行介紹：

　　第一種校準(zhǔn)方法主要是在零負(fù)載的情況下進(jìn)行校準(zhǔn)。相比較來說，這種方法的主要優(yōu)點(diǎn)為：能夠?qū)Νh(huán)境箱的整個(gè)工作區(qū)域進(jìn)行校準(zhǔn)，能夠?qū)Νh(huán)境試驗(yàn)箱的適用性做出有效的評(píng)估。而且在更換測試樣品之后，不需要重新進(jìn)行校準(zhǔn)。

　　那么，這種校準(zhǔn)方法的缺點(diǎn)是什么呢？主要包括一點(diǎn)，就是我們無法及時(shí)得知測試樣品會(huì)對(duì)環(huán)境試驗(yàn)箱的性能產(chǎn)生怎樣的影響。

　　第二種校準(zhǔn)方法是在有負(fù)載的情況下進(jìn)行校準(zhǔn)。

　　相比較而言，這種校準(zhǔn)方法的優(yōu)點(diǎn)非常明顯，主要包括：其能夠較為準(zhǔn)確的檢測出所用測試樣品對(duì)環(huán)境試驗(yàn)箱性能的影響，而且便于得到測試樣品關(guān)鍵部位的環(huán)境試驗(yàn)的詳細(xì)信息。當(dāng)然，這種方法也有缺點(diǎn)，比如在更換測試樣品之后需要重新進(jìn)行校準(zhǔn)。

　　第三種校準(zhǔn)方法可程式高低溫環(huán)境試驗(yàn)箱系統(tǒng)容量：可登入150組程式×1500段,段數(shù)可任意分割,程式可自由相互聯(lián)結(jié)。 循環(huán)設(shè)定：可執(zhí)行9999×999回次數(shù)循環(huán),且可再切割出5組獨(dú)立之部份循環(huán)。

　　控制方式：采智能型正逆雙向同步輸出, 內(nèi)含先進(jìn)之斜率控制邏輯。

　　可程式高低溫環(huán)境試驗(yàn)箱資料設(shè)定：觸控式對(duì)話框設(shè)定模式,操作簡易明確,內(nèi)建目錄數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)。 曲線繪制：當(dāng)溫、濕度、時(shí)間資料設(shè)定完成,可立即轉(zhuǎn)成設(shè)定曲線,運(yùn)轉(zhuǎn)中亦可獲取實(shí)際運(yùn)轉(zhuǎn)曲線之繪制。 時(shí)間訊號(hào)：3組時(shí)式控制輸出接口,搭配10種之時(shí)間控制模式,方便執(zhí)行外部驅(qū)動(dòng)組件啟/停之時(shí)式規(guī)劃。

　　高低溫環(huán)境試驗(yàn)箱在出廠前由我司調(diào)試部校準(zhǔn)，都是按第三方計(jì)量院的方法統(tǒng)一校準(zhǔn)，再由我司技術(shù)部進(jìn)行統(tǒng)一考核，考核合格后再由售后部進(jìn)行安排發(fā)貨，避免了客戶在使用過程中溫度不準(zhǔn)的尷尬。

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